3380D/3380P/3380機型為因應高同測(High Parallel Test)功能，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可並行測512個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。
3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。
3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上，長期以來皆已於市場獲得廣泛印證。
基本架構與擴充能力
- 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
- 多樣彈性VI電源
- Direct mount治具可相容於3360P probe-card
- Cable mount治具可相容於3360D與3360P
數位測試性能
- 測試頻率：50 / 100 MHz
- 數據速率：50 / 100 Mbps
- 512數字通道管腳 (最高可至576數字通道管腳)
- 並行測試可達512 sites同測數
- 32 / 64 / 128M Pattern記憶體
- Real parallel Trim/Match功能
- 時序頻率測試單位 (TFMU)
- SCAN向量存儲深度(最高2G bits/chain) (可選配)
- ALPG測試選配供記憶體IC用
類比與高壓或高電流測試模組
- AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配)
軟體與操作環境
- STDF工具支援
- 測試程式/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
- 操作系統：人性化Window 7
- 程式語言：CRAFT C/C++
- 軟件介面與3380P/3360P相同
APPLICATION
應用領域
