Chroma 3650-S2 具有靈活的配置，多種可選配功能，例如 AD / DA 轉換器測試、ALPG 供記憶體測試、高電壓 PE、Multi-SCAN 測試及類比測試，使其能廣泛測試多種不同的裝置。3650-S2 特別適用於測試電源管理 IC，同時也可用於 SoC 產品測試，搭配多種不同的 VI 浮動電源選配板卡如 HDDPS2、HVVI、PVI100 和 MPVI，最高可以達到 3750V 或 320A 的供電能力，涵蓋高精度、高電壓和大電流的測試需求。
3650-S2 測試系統具備完整的測試功能、高精準度、強大的軟體和出色的可靠性，是測試高性能 MCU、類比 IC、消費性 SoC 的理想選擇，同時，憑藉高產出和高並行的測試能力，3650-S2 可為芯片設計公司、IDM 和測試廠提供最具成本效益的解決方案。
基本架構與擴充能力
- 12 個通用插槽，可用於數位、類比及混合信號應用
- 多達 768 個數位與類比通道
- 大面積 PIB 元件區域
- 透過轉接套件可相容其他測試平台的 PIB 與探針卡
- 氣冷式散熱設計，佔地面積小
數位測試性能
- 時脈頻率：50 / 100 MHz
- 數據速率：100 / 200 Mbps（MUX）
- 時域精確度（EPA）：±300 ps
- 32 MW 向量存儲深度
- 32 MW 向量指令存儲深度
- 各數位通道均內建 PPMU / 頻率量測單元
- 2G SCAN 向量存儲深度
- ALPG 功能可供記憶體測試使用（可選配）
類比與高壓或高電流測試模組
- 多達 48 個高電壓通道
- 多種 VI 浮動電源選配單板
- 64 通道高密度電源供應單板 HDDPS2
- 最高 3750V 串聯輸出電壓類比測試單板 HVVI
- 8 通道 AWG 與 8 通道 Digitizer 混合音頻信號測試單板 ASO
- 最高 320A pulse 高電流測試單板 MPVI
- 32 通道類比測試單板 VI45
- 8 通道類比測試單板 PVI100
- 高功率測試電源供應
軟體與操作環境
- 作業系統：Microsoft Windows® 7 / Windows® 10
- 程式介面：C++ 與 GUI
- CRISP 完整軟體直觀操作環境
- 提供其他測試平台程序與測試向量轉換工具
- 支援 STDF 格式數據輸出
ADVANTAGES
產品優勢
具成本效益的高性能測試系統
Chroma 3650-S2 具備高產出和高並行的測試能力，可為芯片設計公司、IDM 和測試廠提供最具成本效益的解決方案，其完整的測試功能、高精準度、強大的軟體和出色的可靠性，使其成為測試電源管理IC、類比 IC、化合物半導體及 MCU 的理想選擇。
3650-S2 提供多種 VI 電源選配單板，如 HDDPS2、HVVI、VI45、PVI100 和 MPVI，包含高密度、高電壓、大電流、高精度量測功能，具備高達 768 個數位和類比通道管腳以及類比測試功能，可提供高測試性能、高產出，同時具有成本效益的測試解決方案。
高並行測試能力
3650-S2 測試系統具有強大多功能的並行運作 PE，因此可以同時在多個管腳進行相同的參數測試。3650-S2 將 64 個數位通道管腳集成到一個 LPC 單板上，每個 LPC 單板包含 16 個 4 通道的定時信號產生器的高性能 Chroma PINF ICs。
單板上的高集成度控制芯片管理訊號分配和數據讀出，因此減少了測試系統控制器的負擔。3650-S2 採用 any-pin-to-any-site mapping 設計，提供高達 32 sites 的高並行測試能力，透過彈性和直觀的資源分配來促進大規模量產。
靈活的配置與廣泛的應用覆蓋範圍
半導體製造為一發展迅速前進的產業，資本設備須能使用於多個世代交替與應用領域，以延長設備使用期限。Chroma 3650-S2 提供 AD/DA 轉換器測試、ALPG 供記憶體測試、高電壓PE、Multi-SCAN 測試及類比測試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應對未來的測試需求。
Chroma 3650-S2 測試系統能輕鬆整合第三方廠商為特定應用所開發的相關儀器設備，彈性結構設計使其能涵蓋測試的裝置更廣泛，擴展了測試的覆蓋範圍。
佔地面積小
Chroma 3650-S2 採用氣冷式散熱及高度集成的測試頭設計，以最小的佔地面積提供高產量。透過選配不同的支架，3650-S2可以應用於晶圓或封裝測試。
OPERATION
操作環境
Chroma 3650-S2 採用 Chroma 整合軟件平台 CRISP，這是一套易於操作且功能強大的軟件工具，讓使用者可以高效地進行測試開發，其功能涵蓋偵錯、量產及數據分析等，整合了測試程式開發、測試執行控制、數據分析、測試機管理等所有軟件功能，採用 Microsoft Windows 作業系統及 C++ 程式語言，提供使用者強大、快速和直觀操作的 GUI 工具。
測試模組
在測試程式整合開發環境（Project IDE tool）內，測試開發人員可以在標準模組、自訂模組和使用 C++ 程式語言的編輯器之間輕鬆轉換，快速創建測試程式並自動擴展至 multi-site 以便進行並行測試，此外，如果需從其他測試平台轉移至 3650-S2，CRISP 還提供測試程式和測試向量轉換工具，除了提升設備整合開發彈性，也能降低轉移的時間成本。測試程式執行控制器可以在 System Control tool 和 Plan Debugger tool 這兩種工具之間切換，讓使用者在量產或偵錯模式都能有效率地操作，使用者可以在 Plan Debugger tool 內透過設置 breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch 及 variable-modify 來控制測試程式的執行。
偵錯和數據分析
CRISP 提供許多軟件工具來進行測試偵錯和數據分析，包含 Datalog、Waveform 及 Scope 工具可以清楚的顯示測量數據和數位波型，SHMOO 和 Pin Margin 工具可以透過自動或手動模式輕鬆地進行偵錯以找出邊際參數，Wafer Map、Summary、Histogram 及 STDF 這些工具可以有效幫助蒐集測試結果和分析測試指標，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor 工具提供即時偵錯的進階功能，並且在不影響測試或調整 source file 的狀況下，允許用戶調整測試條件或測試向量。另外，CRISP 還為類比測試和 ALPG 選配功能提供 ADDA tool 和 Bit Map tool，運用 ADDA tool 時，使用者除了可以透過圖形工具來檢視 AD/DA 的測試結果，還能自行創建 ADC 向量。這套強大的 GUI 工具可以完整地滿足你對於測試偵錯和生成測試報告的所有功能需求。
操作介面
操作員介面（OCI）是使用於量產的操作介面，它能簡化並確保量產測試的正確運作，在讓操作員操作 OCI 之前，工程師可以事先在量產設置頁面（Production Setup）設定好量產時所需的相關參數，後續當操作員使用 OCI 時，只需選擇設定好的計畫即可執行量產測試。
EQUIPMENT & SUPPORT
周邊設備及應用支援
Chroma 3650-S2 提供多種驅動程式，可藉由 GPIB 和 TTL 協議與針測機及分類機通訊，支援的針測機及分類機包含 CHROMA、SEIKO-EPSON、HONTECH、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK 和 OPUS 。除此之外，3650-S2 提供與現行測試平台的轉接方案，透過轉接套件使其能相容其他測試平台的 PIB 與探針卡，以利測試平台的轉移及降低轉移成本。
Chroma 3650-S2 提供多種驅動程式，可藉由 GPIB 和 TTL 協議與針測機及分類機通訊，支援的針測機及分類機包含 CHROMA、SEIKO-EPSON、HONTECH、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK 和 OPUS 。除此之外，3650-S2 提供與現行測試平台的轉接方案，透過轉接套件使其能相容其他測試平台的 PIB 與探針卡，以利測試平台的轉移及降低轉移成本。
